深圳安車昇輝檢測技術有限公司是從事工業與消費,電子元器件產品測試、檢驗與驗證并具有第三方公正地位的專業檢驗機構。   實驗室已取得中國合格評定國家認可委員會實驗室認可證書（NO.CNAS L2817），國家計量資質認定證書（NO.CMA 2009190140C）和國際運輸安全協會認證(ISTA ID:ST-9555)，實驗室依照國際標準ISO/IEC17025：2005《檢測和校準實驗室能力的通用要求》管理和運行，具備向社會出具公正性檢測報告的資格。

一、濕熱測試方法

1.根據產品本身的特征選擇。對于固體實心的產品或絕緣材料，為了檢查這些產品在潮濕大氣中的電性能或絕緣性能，通常采用恒定濕熱試驗，如受潮是由凝露引起的，應采用交變濕熱試驗。對于密封或空心產品，由于熱應力的作用引起熱脹冷縮導致產品受潮，常采用交變濕熱試驗。

GJB 150.2-86是《軍用設備環境試驗方法低氣壓（高度）試驗》：本標準規定了軍用設備低氣壓試驗方法，確定設備在貯存、運輸和使用中對低氣壓環境的適應性。北京軍用設備低氣壓試驗第三方檢測機構提供低氣壓試驗海拔高度試驗第三方CNAS檢測報告。

1、低氣壓試驗的測試目的

GJB150.9A-2009軍用裝備環境試驗濕熱試驗

濕熱試驗：在2h內將溫度由30℃升至60℃，濕度保持在85%RH以上；在60℃、95%RH條件下保持6h；在8h內將溫度由60℃降至30℃，濕度保持在85%RH以上；在30℃、95%RH條件下保持8h；以上為一個循環，共循環10次.

隨著航天航空和海洋開發事業的迅速發展，隨著電工電子產品在各個方面的廣泛應用，產品所遇到的環境條件變得日益復雜和多樣，大氣壓力的變化就是其中之一。低氣壓試驗低溫低氣壓綜合試驗介紹

一、低氣壓試驗目的

低氣壓試驗是確定產品在低氣壓氣候環境下儲存、運輸、使用的適應性。

產品為什么需要做振動試驗？因為任何產品在運送、使用、保存、中會產生碰撞、振動，使產品在某一段時間產生不良，嚴重影響產品的使用和不必要的經濟損失，為了避免這事態的發生我們就要提早知道產品或產品中的部件的耐振壽命。振動試驗能夠發現的故障模式？1、結構的強度。2、結合物的松脫。3、保護材料的磨損。4、零部件的破損。5、電子組件的接觸不良。6、電路短路及斷續不穩。7、各零件之標準值偏移。8、提早將不良件篩檢。9、找尋零件、結構、包裝與運送過程間之共振關系。振動試驗按照什么標準？GB/T2423.56-2

軍用設備環境試驗GJB150A-2009檢測機構主要提供的環境適應性試驗包括高溫工作、低溫工作、高溫貯存、低溫貯存、交變濕熱試驗、溫度沖擊試驗測試服務，測試通過后出具國家認可的檢測報告。軍用設備環境適應性試驗依據的檢測標準如下：軍用裝備實驗室環境試驗方法第3部分：高溫試驗GJB150.3A-2009軍用裝備實驗室環境試驗方法第4部分：低溫試驗GJB150.4A-2009軍用裝備實驗室環境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗GJB150.5A-2009軍用裝備實驗室環境試驗方法第9部分：濕熱試驗GJB1

霉菌試驗（GJB150霉菌試驗，長霉試驗，防霉試驗，霉菌實驗室）——環境與可靠性試驗中心13691093503霉菌試驗就是檢測產品抗霉菌的能力和在有利于霉菌生長的條件下（即高濕溫暖的環境中和有無機鹽存在的條件下），設備是否受到霉菌的有害影響。霉菌試驗標準GB/T2423.16-1999電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗J和導則：長霉GJB4.10-83艦船電子設備環境試驗霉菌試驗GJB150.10-86軍用設備環境試驗方法霉菌試驗MIL-STD-810F《環境工程考慮與實驗室試驗》GJB3

在GB4208-2008/IEC60529：2001外殼防護等級（IP代碼）標準中有詳細的描述。本標準使用于額定電壓不超過72.5kv，借助外殼防護的電氣設備的防護等級。外殼防護等級試驗標準的目的如下：1.規定電氣設備負荷規定的外殼防護等級：防止人體接近殼內的危險部件；防止固體異物進入殼內設備；防止由于水進入殼內對設備造成有害影響。IP代碼：表明外殼對人接近危險部件、防止固體異物或水進入的防護等級以及與這些防護有關的附加信息的代碼系統。IP66的含義如下：IP6X：產品需抽負壓，放置沙塵箱中，開

霉菌試驗（GJB150霉菌試驗，長霉試驗，防霉試驗，霉菌實驗室）霉菌試驗就是檢測產品抗霉菌的能力和在有利于霉菌生長的條件下（即高濕溫暖的環境中和有無機鹽存在的條件下），設備是否受到霉菌的有害影響。霉菌試驗的標準有：GJB 150.10A-2009軍用設備環境試驗方法霉菌試驗HB6167.11-1989民用飛機機載設備環境條件和試驗方法霉菌試驗.GJB4.10艦船電子設備環境試驗霉菌試驗GBT2423.16-1999電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗和導則長霉GB/T10588-2002 G

鹽霧試驗標準：GJB128A-97《半導體分立器件試驗方法》GJB150.11-86《軍用設備環境試驗方法鹽霧試驗》MIL-STD-810F《環境工程考慮與實驗室試驗》GJB367.2-87《軍用通信設備通用技術條件》GJB4.11-83《艦船電子設備環境試驗鹽霧試驗》GJB548A-96《微電子器件試驗方法和程序》MIL-STD-883D《微電子器件試驗方法和程序》GB/T2423.17-93《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Ka：鹽霧試驗方法》GB/T2423.18-2000《電工電子產品環